简要描述：二次谐波测试系统是一种基于非线性光学效应的精密测量装置。其核心工作原理是，利用超快飞秒激光器发射的基频脉冲激光与样品相互作用，产生频率加倍、波长减半的相干信号光。系统通常集成共聚焦显微镜以实现微区激发与信号收集，并通过精密的偏振控制组件（如半波片、偏振片）研究信号的偏振依赖性，从而获取材料的晶体对称性、晶格取向、堆垛方式等关键结构信息。

Ø   产品概述

SHG1030 二次谐波测试系统是一套基于非线性光学效应的显微测试平台，通过1030 nm激光激发样品产生二次谐波（SHG）信号，实现材料晶体结构、晶向分布及非线性光学特性的表征分析。

系统主要由1030 nm激发模块、偏振控制模块、正置显微镜模块、信号探测模块、二维电动扫描模块及数据采集分析软件组成。集成显微成像、高灵敏探测及自动扫描功能，可实现SHG光谱测试、偏振SHG测试、SHG Mapping成像及功率依赖SHG测试，适用于二维材料、宽禁带半导体及非线性光学晶体等领域研究。

Ø   核心优势

n  无需旋转样品：电动旋转波片自动调节偏振状态。

n  高灵敏信号检测：PMT实现微弱SHG信号检测。

n  自动扫描成像：同步触发快速获取Mapping结果。

n  模块化拓展：支持SHG、PL及Raman拓展。

Ø   关键技术指标

注：支持根据用户需求扩展不同激光波长、探测器及测试模块。

Ø   主要功能

n  偏振SHG测试与成像

通过改变激发光偏振方向，记录SHG信号强度随偏振角变化规律，用于材料晶向及晶体对称性分析。

         明场成像                                                                     SHG极化图                                                                   SHG成像图

n  WS₂样品SHG测试

以单层WS₂为例，系统可实现不同偏振条件下的SHG响应测试及二维Mapping成像，并结合功率依赖测试验证材料的二次非线性光学特性。

      光学明场照片                                                                         35°偏振                                                                          70°偏振

             光学明场照片                                                                         SHG mapping

n  SiC综合表征测试（SHG / Raman / PL）

SHG1030支持扩展Raman及PL测试模块，实现材料多维光学特性的综合分析。

                                SHG极化图                                                                          PL谱                                                                                       拉曼谱

         SHG成像                                                                              PL成像                                                                               拉曼成像

n  功率依赖SHG测试

通过改变激发功率，研究样品SHG信号的响应规律，验证材料非线性光学特性。SHG强度与激发功率满足平方关系（I_SHG ∝ P²），验证二次非线性光学过程。

              不同激发光功率下SHG光谱                                                                                                                     对数坐标下SHG强度与功率的关系