简要描述：TC-300 新一代时间相关单光子计数（TCSPC）模块，采用高速 TDC 数字计时架构，具备高计时精度、超低死时间、宽时间窗口等特点，可满足纳秒至秒级荧光寿命测试需求，广泛应用于时间分辨荧光（TRPL）、荧光寿命成像（FLIM）、磷光寿命（PLIM）、荧光相关光谱（FCS）等研究领域。

Ø  产品概述：

TC-300 新一代时间相关单光子计数（TCSPC）模块，采用高速 TDC 数字计时架构，具备高计时精度、超低死时间、宽时间窗口等特点，可满足纳秒至秒级荧光寿命测试需求，广泛应用于时间分辨荧光（TRPL）、荧光寿命成像（FLIM）、磷光寿命（PLIM）、荧光相关光谱（FCS）等研究领域。

Ø  核心优势：

u  10 ps高计时精度

u  10 ns超低死时间

u  FIFO + MCS双模式采集

u  宽时域范围，兼容荧光和磷光

u  全自主研发软硬件平台

u  千兆以太网接口，易于集成

Ø  主要功能：

u  时间分辨荧光 (TRPL)

u  荧光寿命成像 (FLIM)

u  磷光寿命成像 (PLIM)

u  荧光相关光谱 (FCS)

u  荧光共振能量转移 (FRET)

u  时间分辨阴极发光 (TRCL)

Ø  应用领域：

u  半导体材料

u  钙钛矿材料

u  二维材料

u  发光材料

u  生物成像

u  光电子器件

Ø  时间分辨荧光（TRPL）测试

                                            荧光粉                                                                     钙钛矿                                                                      RuCl₂

  在荧光粉、钙钛矿薄膜及 RuCl₂ 等典型样品测试中，与国际主流 TCSPC 产品具有一致的测试表现，可稳定获得高信噪比荧光寿命数据。

Ø  宽时域荧光/磷光寿命测试与表征

                                      Tc - FR                                                                           Tc - 2BrFR

  支持 MCS 长寿命采集模式，时间窗口覆盖 1 μs～100 s，可实现毫秒至秒级磷光及超长余辉材料寿命测试。

Ø  荧光寿命成像（FLIM）测试

                              细胞                                                                          钙钛矿薄膜

  可实现高分辨率荧光寿命成像测试，适用于生物样品及半导体材料等应用。

Ø  配套软件

                                                                    FluoTrace 采集软件

                                                                    FluoView 分析软件

  提供数据采集、寿命拟合、图像分析等完整的软件解决方案，实现测试与分析一体化。

Ø  技术规格